LDX-SZT-3型半导体导电型号鉴别仪是为了鉴别硅单晶材料的导电类型 “P”和 “N”的测量仪器,是采用温差效应和整流效应两种方法相结合综合性的测量导电型号仪器,测量范围广硅材料电阻率从10^-2~10⁴Ω•cm,仪器采用美国16位单片集成电路计算机为核心,利用数字采集滤波技术,并用 “P” “N”数码直接显示。采用了单片机技术可使测量的准确度和稳定性大幅度提高。仪器采用手持式四探然探头，使用简单，操作方便，且寿命长，适合半导体材料厂、器件厂和科研部门需要。